電子デバイスのサブサーキットモデルの開発並びにパラメータ抽出技術の開発とその評価技術に関する研究
情報科学は安価で高信頼、高機能の半導体製品に支えられています。本研究では電子計測技術、コンピュータによる計測制御・自動化、ならびに電子工学、物理学を駆使して、ICTを支えるための研究をしています。特にLSI設計における回路シミュレーションの役割はますます重要になってきており、そのシミュレーション精度はデバイスモデルとそれに用いられるパラメータに強く依存しています。本研究では、主に高耐圧用MOSFETの回路シミュレーション用デバイスモデル(サブサーキットモデル)の開発、および、それに伴うモデルパラメータの抽出・測定技術に関する研究を行っています。また、アナログ回路における信頼性に関わるランダムテレグラフノイズや1/fノイズの特性評価なども行っています．